国内外の主要規格を体系的に整理し、製品特性と市場要件に応じた試験選定を支援して、開発効率と認証取得の確実性を高めるための情報ページです。
カテゴリーで絞込む
タグで絞込む
全98件を表示中
二酸化硫黄(SO₂)ガス試験方法を定めた国際規格で、腐食性ガス環境下における材料・部品の耐食性を評価。電子機器の長期信頼性確認に有効です。
IEC 60068-2-43を見るMIL-STD-331の要求条件に沿って安全性・耐久性を検証し、軍用相当の厳格な品質基準に対する適合可否を確認するための信頼性評価に対応します。品質管理に有効。
MIL-STD-331を見るJIS C 60068-2-78は、高温多湿の定常条件に曝露して絶縁低下や樹脂劣化を確認し、長期信頼性評価のベースとなる試験であることを規定しています。
JIS C 60068-2-78を見るMIL-STD-750に準拠して半導体デバイスの電気的・環境的耐久試験を実施し、故障モードの把握と品質保証に必要な評価データを体系的に取得します。実務面で有効。
MIL-STD-750を見るIEC 60068-2-64は、実輸送や運用時の振動を模擬するPSDを印加し、はんだ・ビス・配線の耐久や共振応答を評価し、輸送パッケージ検証にも有効と規定しています。
IEC 60068-2-64を見る欧州通信機器向けの環境条件規格で、固定設置場所における機器の使用環境を定義。温度・湿度・振動などの条件を示し、製品設計や信頼性評価の基準として活用されます。
ETSI EN 300019-2-4を見るJEDEC JESD22-A102は、高温保管による材料劣化・拡散・パッケージ応力の影響を評価し、保管寿命の見積りに活用することを規定しています。
JEDEC JESD22-A102を見るJIS C 60068-2-30は、温湿度を周期的に変化させて結露や腐食を促進し、筐体・基板・接点の弱点抽出や量産品質監視に役立てることを規定しています。
JIS C 60068-2-30を見るJEDEC JESD22-A110は、高圧下の高温多湿環境で腐食やイオンマイグレーションを短時間に加速させ、耐湿信頼性を把握することを規定しています。
JEDEC JESD22-A110を見るJEITA ED-4701/200は、電子部品向け耐候性評価の指針を示し、屋外や窓際曝露における光劣化を比較可能にすることを規定しています。
JEITA ED-4701/200を見るISO 19453-4は、高電圧機器の気候的負荷に対する耐性を対象とし、温度・湿度・結露下での機能・絶縁・安全性を長期的に評価することを規定しています。
ISO 19453-4を見るIPC-TM-650 2.6.14.1は、配線導体の抵抗値を測定し、銅厚・幅・めっき品質のばらつきを評価し、量産監視に適用することを規定しています。
IPC-TM-650 2.6.14.1を見るIEC 60068-2-78は、一定の高温多湿条件に長時間曝露し、樹脂の吸湿・加水分解や絶縁劣化を確認し、長期信頼性の基礎評価に適用することを規定しています。
IEC 60068-2-78を見る温湿度複合サイクル試験方法を規定する国際規格で、温度変化と高湿度環境を組み合わせた条件下で製品の耐久性を評価。実使用環境に近い信頼性確認が可能です。
IEC 60068-2-38を見る硫化水素(H₂S)ガス試験方法を規定した国際規格で、硫黄系腐食環境に対する電子部品・接点材料の耐久性を評価。腐食劣化リスクの検証に活用されます。
IEC 60068-2-42を見るJEDEC JESD22-A103の高温保存試験で材料劣化や特性変動を確認し、半導体パッケージの長期保管時における信頼性維持と寿命予測に活用します。導入に有効。
JEDEC JESD22-A103を見るIEC 60068-2-5の太陽放射試験で日射による温度上昇や材料劣化の影響を評価し、屋外設置機器の耐候性設計と寿命見積りの妥当性を確認します。導入に有効です。
IEC 60068-2-5を見るJIS C 60068-2-1は、IEC 60068-2-1のJIS版であり、低温曝露による起動性・機能・機械強度の変化を確認し、寒冷条件下での適合を判断することを規定しています。
JIS C 60068-2-1を見るIEC 62660-2は、車載Li-ionセルやモジュールの容量・内部抵抗・サイクル寿命・レート特性を評価し、温度依存性や劣化挙動の把握に用いることを規定しています。
IEC 62660-2を見るJIS K 5600-7-5は、キセノンランプで屋外光を再現し、塗膜の退色・光沢・ひび割れなどの劣化を評価し、塗装仕様の比較に適用することを規定しています。
JIS K 5600-7-5を見る条件に一致する投稿がありません。