JEITA ED-4701/200
JEITA ED-4701/200は、電子部品向け耐候性評価の指針を示し、屋外や窓際曝露における光劣化を比較可能にすることを規定しています。
カテゴリーで絞込む
タグで絞込む
全6件を表示中
恒温恒湿保存試験（THS）
恒温恒湿保存試験（THS）は、試料を高温多湿の環境下で一定期間放置し、数年後に発生するであろう不具合を短時間で発見し、劣化や性能変化、長期耐久性を評価する試験です。
恒温恒湿保存試験（THS）を見る恒温恒湿バイアス試験（THB）
恒温恒湿バイアス試験（THB）とは、試料を高温高湿環境下に置き、さらに電圧を印加して通電させることで、金属の腐食や絶縁性能低下などの劣化を短時間で再現する試験です。
恒温恒湿バイアス試験（THB）を見るプレッシャークッカー試験（PCT）
プレッシャークッカー試験（PCT）は、試料に高温・高湿・高圧の負荷を与え、内部への水分の浸入を早め、樹脂クラックや金属腐食、絶縁劣化などを短期間で評価する試験です。
プレッシャークッカー試験（PCT）を見る高加速寿命試験（HAST）
高加速寿命試験（HAST）は、試料に高温・高湿・高圧のストレスを与え、通常の環境下では数年かかる劣化を短時間でシミュレーションし、信頼性や耐久性を評価する試験です。
高加速寿命試験（HAST）を見る条件に一致する投稿がありません。