熱衝撃試験（TST）液槽式
熱衝撃試験（液槽式）（TST）は、製品や材料を高温と低温の液体に交互に浸すことで極端な温度変化を与え、亀裂、剥離、変形などの早期不良や弱点を発見・評価する試験です。
熱衝撃試験（TST）液槽式を見るJEITA ED-4701/100B
JEITA ED-4701/100Bは、電子部品の環境試験における一般条件を整理し、各試験の共通定義・前処理・判定基準を明確化することを規定しています。
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熱衝撃試験（TST）気槽式
熱衝撃試験（気槽式）（TST）は、製品や材料を高温と低温の気槽間で速く移動させ、急激な温度変化による亀裂や剥離、変形などの早期不良や弱点を発見・評価する試験です。
熱衝撃試験（TST）気槽式を見る急速温度変化試験（TCC）
急速温度変化試験（TCC）は、製品や材料に急速な温度変化を繰り返し与え、熱膨張・収縮で発生するはんだの剥がれやクラック、破断といった不具合を再現し評価する試験です。
急速温度変化試験（TCC）を見るパワーサイクル試験（PCT）
パワーサイクル試験（PCT）は、試料に大電力を印加することで自己発熱させ、強制的に放熱・冷却を繰り返し、熱疲労に対する劣化や長期耐久性や金属腐食を評価する試験です。
パワーサイクル試験（PCT）を見る高温保存試験（HTS）
高温保存試験（HTS）は、製品や材料を高温の環境下に長時間保存し、経時劣化を意図的に加速させることで、寿命や性能劣化、耐熱性、長期信頼性を短時間で評価する試験です
高温保存試験（HTS）を見る低温保存試験（LTS）
低温保存試験（LTS）は、製品や材料を低温の環境下に長時間保存し、経時劣化を意図的に加速させることで、寿命や性能劣化、耐熱性、長期信頼性を短時間で評価する試験です
低温保存試験（LTS）を見る高温作動試験（HTO）
高温作動試験（HTO）は、製品や材料を高温の環境下にさらしながら連続的に電圧や電流を印加することで劣化を加速させ、不具合の発見や信頼性や耐久性を確認する試験です。
高温作動試験（HTO）を見る温度サイクル試験（TCT）
温度サイクル試験（TCT）は、製品や材料を高温と低温の環境下に交互にさらし、温度変化による熱膨張と収縮による劣化や故障を加速させ、耐久性や信頼性を評価する試験です。
温度サイクル試験（TCT）を見る温湿度サイクル試験
温湿度サイクル試験は、実環境を模した高温高湿と低温乾燥を繰り返し与え、結露や腐食、絶縁不良などの影響を確認する試験です。製品の長期信頼性評価に活用されています。
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