低温保存試験（LTS）は、製品や材料を低温の環境下に長時間保存し、経時劣化を意図的に加速させることで、寿命や性能劣化、耐熱性、長期信頼性を短時間で評価する試験です。
低温保存試験（LTS）は、通電しない保存状態で温度ストレスを与え、長期保管や非稼働時に起こる材料劣化、寸法変化、性能低下を加速して確認する試験です。輸送、保管、待機期間を含めた信頼性を判断するために重要です。分類上は定常試験に含まれる評価であり、関連する試験と組み合わせることで、より実使用に近いリスク確認ができます。
試験の目的
低温保存試験（LTS）は、通電しない保存状態で温度ストレスを与え、長期保管や非稼働時に起こる材料劣化、寸法変化、性能低下を加速して確認する試験です。輸送、保管、待機期間を含めた信頼性を判断するために重要です。分類上は定常試験に含まれる評価であり、関連する試験と組み合わせることで、より実使用に近いリスク確認ができます。
試験前後の状態を比較することで、単なる合否だけでなく、どの条件でどのような劣化が起きるかを把握できます。設計変更、材料選定、量産工程の見直し、品質保証資料の作成に活用できます。
評価できること
- 保存後の外観変化や変形。
- 樹脂・接着材・シール材の劣化。
- 電気特性や機能の変化。
- 温度履歴による部品・材料の安定性。
主な確認対象は、外観変化、性能低下、接触不良、絶縁劣化、腐食、変形、クラックなどです。異常が確認された場合は、観察や解析と組み合わせて発生要因を絞り込みます。
主な供試品
- 電子部品。
- 車載部品。
- 実装基板。
- 樹脂・金属部品。
- モジュール製品。
試験条件の考え方
評価する使用環境に応じて、保存温度、保持時間、復帰条件、試験前後の測定項目を設定します。高温側では熱劣化や軟化、低温側では収縮、脆化、起動前の性能変化を重点的に確認します。
条件を決める際は、実使用環境をそのまま再現するのか、短期間で劣化を加速するのかを明確にします。過度な条件設定は実際には起こりにくい故障を誘発する場合があるため、評価目的に合う負荷水準と判定方法を設計することが重要です。
関連する試験規格
代表的な関連規格には、ISO 16750-4、JASO D 014-4、JEITA ED-4701/100B、JIS C 60068-2-1、LV124 などがあります。実際の試験では、適用する規格版、供試品仕様、顧客要求を確認したうえで条件と判定基準を決定します。
- ISO 16750-4。
- JASO D 014-4。
- JEITA ED-4701/100B。
- JIS C 60068-2-1。
- LV124。
試験の流れ
- 供試品の仕様、評価目的、要求規格、判定基準を確認します。
- 試験条件、測定項目、試験前後の確認方法を決定します。
- 供試品を試験設備へ設置し、必要に応じて治具、配線、センサーを準備します。
- 設定条件に従って試験を実施し、外観、機能、電気特性などを確認します。
- 取得データと観察結果を整理し、劣化傾向や異常の有無を報告します。
ETACの対応
ETACでは、環境試験器メーカーとしての知見と受託試験の設備を組み合わせ、条件設定から試験実施、結果整理、必要に応じた追加解析まで一貫して対応します。
試験条件が未確定の段階でも、供試品の用途や想定環境、確認したい不具合モードをもとに評価計画を整理できます。環境試験、性能測定、観察・解析を組み合わせることで、製品開発と品質保証に必要な根拠づくりを支援します。
試験所
