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落下試験
機械的試験
落下試験
落下試験は、供試品を所定の高さから自由落下させ、輸送や取り扱い時の衝撃を再現して破損や機能不良を確認する試験で、モバイル機器などの信頼性評価に広く用いられます。
代表的な試験規格
JIS Z 0200
JIS Z 0232
MIL-STD-810
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